蓝宝石膜厚测试仪■利用反射干涉的原理进行无损测量■可测量薄膜厚度及光学常数,测量达到埃级的分辩率■操作简单,界面友好,是 目前市场上具性价比的膜厚测量仪设备■设备光谱测量范围从近红外到紫外线,... ...
半导体器件性能表征系统型号:进口该半导体器件性能表征系统是一个可以提供精密电流源、电压源和测试功能的测试系统,为半导体器件和测试结构的直流参数测试、实时绘图与分析提供了一套完整的方案,具有高和... ...
硅棒\硅锭红外探伤仪 型号:进口。实现对太阳能硅块快速、无接触的缺陷检测。检测的缺陷类型包括: 裂纹和空洞、SiC杂质、 微晶聚集结构、金属沉淀。 产品特点 ■ 系统操作简单、便捷;■ 线扫描模式的高... ...
碳氧含量测试仪 产品型号:进口 此款硅料碳氧含量测试仪是我公司新从国外引进的设备。它结合了当今新的光学、电子学、材料科学和人工智能技术,所有的细节无不体现设计的宗旨:操作简便,性能卓越、功能强大... ...
硅芯电阻测试仪硅芯电阻率测试仪是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型,方型或矩形单晶锭的电阻率,在硅芯、检验棒电阻率... ...
实验室用纯水制备 满足硅材料检验实验室的纯水制备需求;水质符合国家标准;出水量可定制。 功能特点 采用离子交换法制备纯水,对自来水进行纯水处理;符合GB/T 11446.1--1997标准。 功能特点 ... ...
拉单晶专用-镓掺杂剂 半导体拉晶的重要掺杂元素 镓掺杂剂的计算公式 X:为掺入高纯镓的质量M:镓的原子量NA:阿伏加德罗常数W:投炉硅的质量D:硅的密度C:熔硅中的Ga浓度即CL0度 ...
250升以上纯水制备 硅片的生产离不开纯水,硅片的研磨,抛光,化学腐蚀等各个环节均需纯水进行清洗,水的纯度直接影响着硅产品的质量好坏。我公司研发的250升以上纯水设备可以满足太阳光硅生产的需要,为您提... ...
多角度激光椭偏仪 产品型号:进口。 简要描述:高性能椭偏仪,针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置,拥有业内测量度。 功能特点 多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器,对... ...
裸片及镀膜片 全光谱 反色率、色度、膜厚测量仪 型号: XH-LAB-RC硅晶电池片表面制绒效果对电池片效率提高扮演着非常重要的角色。电池片的制绒减少了因为反射而丢失的光,并且对电池片的钝化效果也有很大的影响... ...
测量范围:0 MΩ 扩展电阻测试仪型号:进口扩展电阻法是利用特殊的点接触金属探针,沿着样品的表面 ,以微小的步进测出半导体材料或器件表面的每一点的扩展电阻值,由此得到电阻、电阻率和载流子浓度(掺杂杂质浓... ...
两探针电阻率测试仪的详细信息 地址: 两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法... ...
非接触电阻率厚度测试仪的详细信息隔离电压:(V)工作温度:(℃)测量范围:——(mm)额定功率:——(W)等级:负载电阻:≤(KΩ)或≥(KΩ)匝数比::效率:(%)线性度:(%)输出电流:——(A)输入电流:——(A)频率... ...